|
08.10.2018
Открыт прием заявок на Конкурс по Программе «УМНИК»
Фондом содействия развитию малых форм предприятий в научно-технической сфере (www.fasie.ru) открыт прием заявок от студентов, аспирантов и молодых ученых на Конкурс по Программе «УМНИК».
Уважаемый молодой ученый/аспирант/студент!
Хочешь получить 500 тысяч рублей в течение 2-х лет на развитие своей идеи?
Тогда:
1. Зарегистрируйся, если ты это еще не сделал, на сайте http://umnik.fasie.ru/kazan/
2. Выбери любое полуфинальное мероприятие, которое тебе подходит http://umnik.fasie.ru/kazan/
3. Опиши свою идею в заявке и подай ее в электронной форме.
4. Подготовь презентацию проекта, пройди предварительный отбор на выбранном «полуфинале».
5. Выступи на финальном отборе (Финал проводит региональное представительство Фонда в РТ – Инновационный Технопарк «ИДЕЯ» http://tpidea.ru) в ноябре 2018 г.
6. И стань победителем!
В рамках Программы отбираются проекты по следующим тематическим направлениям:
-
H1. Цифровые технологии;
-
Н2. Медицина и технологии здоровьесбережения;
-
Н3. Новые материалы и химические технологии;
-
Н4. Новые приборы и интеллектуальные производственные технологии;
-
Н5. Биотехнологии;
-
Н6. Ресурсосберегающая энергетика.
Более подробно ознакомиться с программой «УМНИК» можно, пройдя по ссылке http://fasie.ru/programs/programma-umnik/
Теги: УМНИК
|
|
|
04.09.2018
ФИЦ КазНЦ РАН получил первые патенты на изобретения РФ
1. Патент РФ на изобретение "Способ изготовления алмазной дифракционной решетки" № 2 659 702, дата госрегистрации 03.07.2018
2. Патент РФ на изобретение "Алмазная дифракционная решетка" № 2 661 520, дата госрегистрации 17.07.2018
В основе новых Патентов на изобретения заложена оригинальная технология изготовления периодических микроструктур и дифракционных решеток на основе монокристаллического алмаза, сформированных методом ионной имплантации через поверхностные маски. Работа выполнена на ионном ускорителе ИЛУ-3 КФТИ ФИЦ КазНЦ РАН.
Авторы патента сотрудники КФТИ – обособленного структурного подразделения ФИЦ КазНЦ РАН: Степанов А.Л. (в.н.с., Рук. группы «Нанооптика и наноплазмоника), Нуждин В.И. (с.н.с. Лаб. радиационной физики и ГНН), Валеев В.Ф.(н.с. Лаб. радиационной физики и ГНН), Галяутдинов М.Ф. (в.н.с., Лаб. Квантовой оптики и информатики), Курбатова Н.В. (н.с., Лаб. Быстропротекающих молекулярных процессов), Воробьев В.В. (м.н.с. ГНН и КФУ), Осин Ю.Н. (н.с. ГНН и КФУ).
Поздравляем авторов!
Пример изображения, полученного на СЭМ-микроскопе, дифракционной решетки на монокристаллическом алмазе, сформированной имплантацией ионами бора, а также наблюдение дифракционной картины при облучении решетки гелий-неоновым лазером.
Теги: Патенты
|
Теги: 